AE-3245A 5分类数字C-tanδ测量仪
最适合检查铝质电解电容质、老化工程
- 检测功能标准配备
- 测量频率：120Hz[正弦波]
- 测量时间：约105msec.[包含接触＆残留电压检测时间]
- 测量范围：C[0～39.99mF]/tanδ[0～199.9%]
- 内置比较器功能5分类判定显示及输出
- Centronics输出标准配备
测量范围及基本精度 适用于C:200(digit)～3999(digit)/tanδ＜99.9%（环境温度23℃±5℃）
| 量程 | 400nF | 4μF | 40μF | 400μF | 4mF | 40mF |
|---|---|---|---|---|---|---|
| C精确度 | ±0.5%±2(digit) | ±2%±2(digit) | ±2%±5(digit) | |||
| tanδ精确度 |  |
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| 测量模式 | 串联等效电路 | |||||
※tanδ为100.0%～199.9%的情况下，C以及tanδ的精度则为上述的2倍。
| 测量模式 | 串联等效电路 |
|---|---|
| 测量讯号等级 | 约400mV (r.m.s.)以下 |
| 测量方式 | 由电压、电流、防护端子所构成的5端子 |
| 测量频率 | 120Hz±0.1%、正弦波 |
| 测定端子 | 前面板部：接线柱 5端子 后面板部：8P圆形金属电路连接器 |
| 接触检测 | 输入端子的1端子以上接触电阻约为200Ω以上时，为检测错误 |
| 残留电压检测 | 用4端子连接，检测样品的未放电电压约为2.2V以上时，保护检测电路（输入保护） |
| 测量时间 | 【HOLD模式测量时间】约105msec. 【接触检测＆残余电压检测】约27msec. 【测量稳定时间】约45msc. 【到测量端子开放为止】约96msec. 【空转模式测量时间】约3次/秒 |
| 判定结果显示 | 容量[C]：CLO、CLG、CGO、CHG、CHI tanδ：DGO、DNG |
| 判定结果外部输出 | GO1、GO2、CNG、DNG |
| 控制讯号 | 输入：START、HOLD、RESET、CINH、SHIFT、NINH、GINH 输出：GO1、GO2、CNG、DNG、CER、COV、DER、DOV、CEND、MEND、BUSY、SLCT、CCE、VCE、各种切换判定 |
| 数据接口 | Centronics 输出 |
| 周围使用环境 | 温度：0℃～+40℃、 湿度：80%以下（不结霜情况下） |
| 所需电源 | AC85V～265V、50～60Hz、约45VA |
| 外形尺寸 | 432(W)×149(H)×450(D)mm（不含底部橡胶等突起部分突起部分。） |
| 重量 | 约10kg |
※说明书的内容会因机台改良而随时变更,恕不另行通知。
