AE-365E 超高速・高精確度・120Hz/1kHz數位容量量測器
最適合晶片、簿膜式、直立式、軸向式電容器自動捆包機
- 超高速:1msec.【TYP】(測量中時間)
- 以2pF / 20pF量程 5V 測定達到大幅提升微小容量的安定度
- 透過測量值異常檢知方式可於2點端子(4點端子)測量時檢出測量測針接觸不良情況
- 4點端子接觸檢測:可選擇 測定後/OFF
- 測量頻率:1kHz / 120Hz ±0.1% (正弦波)
- 可切換 串聯等效電路、並列等效電路
- 定電壓測量(無法對應部分量程)
- 可測量tanδ(無法對應2pF量測)
- 31/2位數(1999)數位顯示、內建比較器功能可HI / GO / LO輸出
- RS-232C介面、印表機輸出標準配備(符合Centronics)(GP-IB為選購)
- 間歇性供給測量電流以減輕量測探針接觸之耗損[120µF/1.2mF量程]
- 即使於檢測中亦可輸出設定值、統計值、日期、時間至列表機
測量範圍及基本精確度(D<0.1 周圍溫度23℃±5℃)
檔位 | 測量範圍 | 最小解析度 | 精確度 | 測量電壓 | |
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2pF | 0.000pF~1.999pF | 0.001pF | ±1.0% of rdg±5digit×α 以内 | 1kHz,1V±5% [rms] | 1kHz,5V±5V% [rms] |
20pF | 0.00pF~19.99pF | 0.01pF | ±0.25% of rdg±3digit×α 以内 | ||
200pF | 0.0pF~199.9pF | 0.1pF | ±0.2% of rdg±2digit×α 以内 | – | |
2nF | 0.000nF~1.999nF | 0.001nF | ±0.2% of rdg±2digit 以内 | – | |
20nF | 0.00nF~19.99nF | 0.01nF | – | ||
200nF | 0.0nF~199.9nF | 0.1nF | – | ||
2μF | 0.000μF~1.999μF | 0.001μF | 120Hz、0.5V±5% [rms] | ||
20μF | 0.00μF~19.99μF | 0.01μF | ±0.3% of rdg±3digit×α 以内 | ||
120μF | 0.0μF~119.9μF | 0.1μF | ±1.0% of rdg±5digit×α 以内 | 1kHz,1V+5%~-15% [rms] | – |
200μF | 0.0μF~199.9μF | 0.1μF | ±0.5% of rdg±3digit×α 以内 | – | 120Hz、0.5V±5% [rms] |
1.2mF | 0.000mF~1.199mF | 0.001mF | ±1.5% of rdg±5digit×α 以内 | – | 120Hz、0.5V+5%~5%~-25% [rms] |
※0.1<D<1的情況時、25D/100(%)則需加算上記精確度。 α:FAST時2(2pF量程/1 V 時 α=10) SLOW時1(2pF量程/1 V 時 α=5)
測量方式 | 3/5點端子測量方式[可選擇不同量程] |
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測量頻率 | 120Hz/1kHz±0.1%、正弦波 |
測量訊號輸出抵抗 | 約1Ω |
雑散電容修正範圍 | 約30pF |
滿刻度及零度係数 | ±100ppm/℃以内 |
測量時間 | 【內部觸發】FAST:約1~5回/秒 SLOW:FAST×N(N:平均值設定回數) 【測量中訊號[FAST]】1msec.[最速時] |
比較器設定範圍 | Capacitance:HI/LO和1999[120µF/1.2mF 檔位HI/LO與1199] tanδ:99.9% |
使用周圍環境 | 溫度:0℃~+50℃、 濕度:85%以下 |
所需電源 | AC85V~265V、50~60Hz、約50VA |
外形尺寸 | 333(W)×99(H)×300(D)mm(不含底部橡膠部分。) |
重量 | 約4kg |
AE-365E本體 | [RS-232C標準配備] |
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GP-IB 選購 | [若選購GP-IB則無法搭配RS-232C] |
※型錄的規格會因機台改良而隨時變更。