AE-365E超高速・高精度・120Hz/1kHz数字容量测试仪
最适合贴片、MELF、辐向和轴向式电容器包装机
- 超高速:1msec.【TYP】(测量时的时间)
- 通过2pF/20pF量程5V测定,大幅提升微小容量的稳定度
- 通过测量值异常得知2端子(4端子)测量时探测头接触不良的情况
- 4端子接触检测:可选择 测定后/OFF
- 测量频率:1kHz/120Hz±0.1%(正弦波)
- 可在串联等效电路、并联等效电路之间切换
- 定电压测量(适用部分量程)
- 可进行tanδ测定(2pF量程不适用)
- 31/2位数(1999)数字显示、内置比较器功能可HI/GO/LO输出
- RS-232C接口、打印机输出(适合Centronics的标准配备)(GP-IB为选购)
- 间歇性增加测量电流以减轻量探测头接触磨损[120µF/1.2mF量程]
- 即使在检测中也可打印测定值、统计值、日期、和时间
测量范围及基本精准度(D<0.1 周围温度23℃±5℃)
量程 | 测量范围 | 最小分辨率 | 精确度 | 测量电压 | |
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2pF | 0.000pF~1.999pF | 0.001pF | ±1.0% of rdg±5digit×α 以内 | 1kHz,1V±5% [rms] | 1kHz,5V±5V% [rms] |
20pF | 0.00pF~19.99pF | 0.01pF | ±0.25% of rdg±3digit×α 以内 | ||
200pF | 0.0pF~199.9pF | 0.1pF | ±0.2% of rdg±2digit×α 以内 | —- | |
2nF | 0.000nF~1.999nF | 0.001nF | ±0.2% of rdg±2digit 以内 | —- | |
20nF | 0.00nF~19.99nF | 0.01nF | —- | ||
200nF | 0.0nF~199.9nF | 0.1nF | —- | ||
2μF | 0.000μF~1.999μF | 0.001μF | 120Hz、0.5V±5% [rms] | ||
20μF | 0.00μF~19.99μF | 0.01μF | ±0.3% of rdg±3digit×α 以内 | ||
120μF | 0.0μF~119.9μF | 0.1μF | ±1.0% of rdg±5digit×α 以内 | 1kHz,1V+5%~-15% [rms] | —- |
200μF | 0.0μF~199.9μF | 0.1μF | ±0.5% of rdg±3digit×α 以内 | —- | 120Hz、0.5V±5% [rms] |
1.2mF | 0.000mF~1.199mF | 0.001mF | ±1.5% of rdg±5digit×α 以内 | —- | 120Hz、0.5V+5%~5%~-25% [rms] |
※0.1<D<1的情况下、在上记精确度上加上25D/100(%)。 α:FAST時2(2pF量程/1 V 時 α=10) SLOW時1(2pF量程/1 V 時 α=5)
测量方式 | 3/5端子测量方式[可选择不同量程] |
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测量频率 | 120Hz/1kHz±0.1%、正弦波 |
測量讯號输出阻抗 | 约1Ω |
寄生电容修正范围 | 约30pF |
满刻度及零度系数 | ±100ppm/℃以内 |
测量时间 | 【空转周期】FAST:约1~5次/秒 SLOW:FAST×N(N:平均值设定次数) 【测量中讯号[FAST]】1msec.[最快时] |
比较器设定范围 | Capacitance:HI/LO和1999[120µF/1.2mF 量程HI/LO与1199] tanδ:99.9% |
周围使用环境 | 温度:0℃~+50℃、 湿度:85%以下 |
所需电源 | AC85V~265V、50~60Hz、约50VA |
外形尺寸 | 333(W)×99(H)×300(D)mm(不含底部橡胶部分。) |
重量 | 約4kg |
AE-365E本体 | [RS-232C标准配备] |
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GP-IB 选购 | [若选购GP-IB则无法搭载RS-232C] |
※说明书的内容会因机台改良而随时变更,恕不另行通知。