AE-3245A 5分類數位C-tanδ量測儀
最適合檢查鋁質電解電容質、的老化現象
- 接觸量測功能基本配備
- 測量頻率: 120Hz [正弦波形]
- 測量時間: 約105msec.[包含接觸&殘留電壓量測時間]
- 測量範圍: C[ 0~39.99mF ] / tanδ[ 0 ~ 199.9% ]
- 以內建比較器功能顯示 5分類判定及輸出
- Centronics輸出標準配備
測量範圍及基本精確度 適用於C:200(digit)~3999(digit)/tanδ<99.9%(周圍溫度23℃±5℃)
檔位 | 400nF | 4μF | 40μF | 400μF | 4mF | 40mF |
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C精確度 | ±0.5%±2(digit) | ±2%±2(digit) | ±2%±5(digit) | |||
tanδ精确度 | ||||||
測量模式 | 串聯等效電路 |
※tanδ為100.0%~199.9%的情況C以及tanδ的精確度則為上記之2倍。
測量模式 | 串聯等效電路 |
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測量訊號等級 | 約400mV (r.m.s.)以下 |
測量方式 | 由電壓、電流、遮護線端所構成之5點端子 |
測量頻率 | 120Hz±0.1%、正弦波 |
測定端子 | 前面板部:接線柱 5點端子 後面板部:8P圓形金屬電路連接器 |
接觸檢測 | 以輸入端子的1點端子以上進行量測而接觸電阻為約200Ω以上時為量測錯誤 |
殘留電壓檢測 | 以4點端子連結時,檢測測量樣品未放電電壓為約2.2V以上則保護測量電路(保護輸入) |
測量時間 | 【HOLD模式測量時間】約105msec. 【測量量測&確認殘餘電壓】約27msec. 【測量安定時間】約45msc. 【到達測量端子開放時間】約96msec. 【內部觸發模式測量時間】約3回/秒 |
判定結果顯示 | 容量[C]:CLO、CLG、CGO、CHG、CHI tanδ:DGO、DNG |
判定結果外部輸出 | GO1、GO2、CNG、DNG |
控制訊號 | 輸出:START、HOLD、RESET、CINH、SHIFT、NINH、GINH 輸入:GO1、GO2、CNG、DNG、CER、COV、DER、DOV、CEND、MEND、BUSY、SLCT、CCE、VCE、各種切換判定 |
檔案介面 | Centronics 輸出 |
使用周圍環境 | 溫度:0℃~+40℃、 濕度:80%以下(不結霜情況下) |
所需電源 | AC85V~265V、50~60Hz、約45VA |
外形尺寸 | 432(W)×149(H)×450(D)mm(不含底部橡膠部分。) |
重量 | 約10kg |
※型錄的規格會因機台改良而隨時變更。